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X射线荧光分析仪

  • 桌面式X射线荧光分析仪
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桌面式X射线荧光分析仪桌面式X射线荧光分析仪

桌面式X射线荧光分析仪

  • 薄膜膜厚分析
  • 薄膜元素分析
  • 薄膜成分分析
  • 产品描述:型号:XLNCE SMX-BEN
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XLNCE SMX-BEN 台式能量色散X射线荧光分析仪(EDXRF)为工艺开发、过程控制和质量保证等领域提供无损检测、薄膜层厚和成分的测量手段。是研发工作和失效分析中的绝佳分析方法。它能促进在前期或早期生产阶段的材料选择和配方制定,并支持加工平台工具以及产能生产。


  • 提供一系列可选择的X射线光源和初级滤片
  • 配备最新一代的硅漂移探测器
  • 为简易校准过程提供经验值和基本参数解决方案
  • 超大分析样品室
  • X-Y-Z可编程定位


特殊应用领域:


  • 光伏制造
  • 金属涂层
  • 晶圆级金属化和微电子
  • 腐蚀/磨损和热障分析


XLNCE SMX-BEN提供了无与伦比的多样化分析和超高的性价比。